HOME > Research > Facility

Facility

[Analysis] Atomic Force Microscopy (Park Systems)
  • 글쓴이 김현영
  • 작성일 2022-03-03 18:11:14
  • 조회수 117


  • 제작회사 : Park Systems
  • 모델명 : Park NX10
  • 용도 : 표면 분석
  • 특징 :
    - 원자간력현미경 (AFM, Atomic Force Microscope)은 마이크로머시닝 (Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료 표면에 가까이 가져 갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 통해 미세한 시료 표면의 3차원적 형상을 측정할 수 있다.
    - 일반 대기 중에서 시료 표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 측정함으로써 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 시료의 온도 변화에 따른 이미지 측정 및 시료의 표면 전기적, 자기적, 물리적 특성 측정도 할 수 있다.
    - ParkSystems, NX-10, AFM, SPM, Zurich Instrument, ZI, Lock-in amplifier, HF2LI
  • 담당자 : 이석현, 임준일
    		•
    목록





    이전글 Probe station (Bldg 39.) (MS TECH)
    다음글 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Analyzer (WDXRD)